AWG-4000 시리즈 장비는 함수 발생기 ( Function Generator ), 임의 파형 발생기( Arbitrary Waveform Generator ), 디지털 패턴 발생기( Digital Pattern Generator ) 및 직렬 데이터 패턴 발생기( Serial Data Pattern Generator )를 포함하여 4가지 기능을 하나의 장비에 결합한 다기능 신호 발생기입니다.

이러한 네 가지 기능은 다음의 두 가지 기술을 채택하여 HW 유연성을 확장: AFG 모드의 향상된 DDS와 AWG 모드의 가변 클럭,True-Arbitrary 기술

AFG 모드를 사용하면 사용자는 파형 모양을 유지하면서 모든 펄스 매개변수를 즉시 글리치 없이 변경하고 즉시 펄스를 생성할 수 있습니다.

AWG 모드를 사용하면 사용자는 아날로그 및 디지털 패턴의 복잡한 파형을 생성하고, 이를 시퀀스에 삽입하고 루프, 점프 및 Conditional Branche 를 적용할 수 있습니다.

직렬 데이터 패턴 모드는 이진 정보(Binary information)스트림을 생성하도록 설계되었습니다. 최대 8개 채널의 데이터 스트림, 내장 PRBS 시퀀스, 변조 기능, 전환 형성 및 강력한 아날로그 프런트 엔드의 유연성을 갖춘 SPG는 가장 복잡하고 어려운 애플리케이션을 위한 완벽한 도구입니다.

Applications

각 채널당 최대 1024M 포인트의 파형 메모리

16384개의 시퀀서 항목

아날로그 및 디지털 신호가 완전히 동기화됨

직렬 데이터 패턴 생성

Radar 또는 Sonar 시스템으로 구동되는 전자전 신호(Electronics warfare signals )에 대한 AWG-4000 시리즈 발생기는 완벽한 솔루션을 제공합니다. AWG-4000 시리즈 AWG는 무선 애플리케이션 또는 기타 I/Q 신호 변조를 위한 디지털 변조 시스템에 사용할 수 있습니다. 또한 펄스 전자빔 또는 X선 소스, 플래시 X선 방사선 촬영, 조명 펄스 시뮬레이터, 고전력 마이크로파 변조기와 같은 응용 분야에서 펄스를 쉽게 생성할 수 있습니다.

Highlights

탁월한 스퓨리어스 성능으로 레이더 테스트 신호 생성

최대 16384개의 시퀀서를 사용하여 복잡한 전자전 시나리오 생성

항목 및 고급 시퀀서 조건부/무조건부 점프

± 2.5V 하드웨어 오프셋으로 50Ω 펄스 진폭으로 최대 12Vpp

빠른 상승 시간 펄스: 최저 900ps 상승/하강 시간

오늘날의 자동차에는 매우 민감한 전자 부품이 포함된 매우 정교한 전자 제어 장치(ECU)가 많이 포함되어 있습니다. 높은 샘플링 속도 및 12Vpp (24 Vpp on High Impedance Load) 출력 진폭 범위와 결합된 16비트 수직 분해능으로 AWG-4000 시리즈는 자동차분야에서 새로운 테스트 과제를 성공적이면서 효율적으로 해결할 수 있는 솔루션을 제공합니다.

무선 기술은 생산성과 효율성을 새로운 차원으로 끌어올리면서 차세대 산업 혁명을 주도하고 있습니다. 제조업은 더욱 지능적이고 유연하며 역동적으로 변하고 있어 무선 연결 비즈니스 및 업무에 더욱 중요해졌습니다. 무선 연결 비즈니즈에서는 안정성, 대기 시간 및 보안과 관련하여 매우 엄격한 요구 사항이 적용됩니다.

이런 변화의 시나리오에 따라 AWG-4000 시리즈 파형 발생기는 무선 장치에 대한 시뮬레이션 및 테스트를 위해 복잡한 RF I/Q 변조를 에뮬레이트하거나 Industry 4.0 애플리케이션의 사물 인터넷에서 작업할 수 있는 가능성을 제공합니다.

Highlights

CAN, CAN-FD, LIN, Flexray, SENT 에뮬레이션 및 문제 해결

100BASE-T1, 1000BASE-T1, BroadR-Reach 에뮬레이션 및 간섭 신호 및 잡음에 대한 내성

저전압 자동차에 사용되는 전기 및 전자 부품의 전력 무결성 테스트

센서 신호 생성: 고화질 오실로스코프로 획득한 신호를 이상적으로 에뮬레이션하거나 실제 신호를 생성

MOSFET 특성화 및 최적화를 위한 MOSFET 게이트 드라이브 진폭 신호 에뮬레이션

최대 24V의 전기 표준 에뮬레이션

MEMS 센서 테스트: 최대 24V – 2.5ns 상승 및 하강 시간

연구에서는 정확하고 상세하며 반복 가능한 제어 방식으로 진폭 및 타이밍 변화 결함을 추가하는 신호를 에뮬레이션해야 합니다. 물리학, 전자, 화학, 기계 및 기타 분야에서 활용 가능하며, 매우 직관적인 사용자 인터페이스와 하드웨어 유연성으로 응용분야에 최적의 솔루션을 제공합니다. 테스트를 위한 가장 어려운 설정도 몇 분 만에 가능합니다.

오늘날의 IC, 부품, 전자 회로 및 센서는 다양한 변수에서 작동 범위를 확장하면서 신뢰성이 높아야 합니다. 잡음이나 왜곡이 포함되어 생성된 복잡한 신호를 에뮬레이션하는 것은 반도체 엔지니어에게 중요하며, 이를 완벽하게 가능하게 해줍니다.

Highlights

구성 요소 오버클럭 동작과 작동 범위 제한 및 스트레스 테스트를 위한 클록 생성

낮은 임피던스 기능을 사용하여 IC의 전원 공급 시퀀스(5 Ω output impedance)

잡음과 알려진 변조 왜곡을 추가하는 신호 소스 에뮬레이션

양자 컴퓨팅(Quantum Computing)

상세한 파형 생성을 통해 레이저 다이오드를 변조 및 구동

이전 오실로스코프를 사용하여 획득하고 AWG-4000 시리즈 발생기로 가져온 실제 신호의 생성/재생

스위칭 매개변수를 측정하고 MOSFET 및 IGBT 전력 장치의 동적 동작을 평가하기 위해 몇 초 내에 이중 펄스 테스트 설정

SPG 옵션을 사용한 긴 PRBS 시퀀스 에뮬레이션

SPG 옵션을 사용하여 다중 레벨 및 다중 에지 펄스 장파형 생성

최대 4개의 장치를 동기화하여 True-Arb 소프트웨어와 완전히 동기화되고 통합된 32개의 아날로그 채널과 128개의 디지털 채널로 구성된 시스템을 구축할 수 있습니다.

Highlights

최대 4개 장치 동기화 : 아날로그 채널 32개 및 디지털 채널 128개

True-Arb 소프트웨어를 통해 사용하기 쉬운 다중 장비 제어

많은 수의 채널이 필요한 최신 애플리케이션 처리

다중 큐비트를 갖춘 양자 컴퓨팅 시스템